薄膜电容的损耗一般分为介质损耗和金属损耗，介质损耗一般是介质漏电流和介质极化引起的损耗，金属损耗一般是极板与引脚的接触电阻，接触极板电阻，引脚电阻三部分构成要控制薄膜电阻的损耗，就要从上述因素控制，主要也取决与薄膜电容的制程工艺
