试片的厚度H应为
试片A （2.0 ± 0.2） 毫米 试片B （6.3 ± 0.3） 毫米
对每块试片厚度的测定应至少取三点以接触面压（20±3）千帕斯卡进行测量。试片厚度应为三个所测数值的平均值。所测最大数值和最小数值之间的差异不得超过0.2毫米（试片A）或0.4毫米（试片B）（见 DIN 53 534）。 试片的长度L 应约为100毫米（见图1） 图1 试片
4.3 试片的准备
试片应符合DIN 53 502 的规定从试样或成品上切取。
沿试片窄边中间部位作一个（40±5）毫米深的纵向切口，该切口结尾部分应用刀片或锋利刀具完成。 4.4 试片的预处理
测试应在硫化后16小时以上，4周内进行。对于成品部分，在任何情况下，硫化后和开始测试之间的时间间隔不得超过3个月。如果未知材料的生产日期，测试应在收货后两个月内进行。试片在任何储存时期内应尽可能避免光线的照射。切割前试片应根据 DIN 53 500 在摄氏23度下至少放置3个小时。如果试片切割后不能立即进行测试，则试片应在前述条件下存放。切割和试片测试之间的时间间隔不得超过24小时。
如果试片的预处理涉及抛光，则抛光和测试之间的间隔不得超过72小时。 如果测试开始前试片已经开始老化，则应在其老化后进行切割。 4.5 试片的数量
至少应对5块试片进行测试，如果必要，应按分条款4.1所指的每个方向取5块试片。 5．测试设备
所用的测试设备应为DIN 51 221第三部分规定的带记录装置和夹钳的拉伸测试机。 力量指示必须为DIN 51 221 第一部分所规定的第一级。测试设备应配有短程低惯性测力计。带有倾斜摆锤测力计的测试设备的适用性较差。
试片的厚度H应为
试片A （2.0 ± 0.2） 毫米 试片B （6.3 ± 0.3） 毫米
对每块试片厚度的测定应至少取三点以接触面压（20±3）千帕斯卡进行测量。试片厚度应为三个所测数值的平均值。所测最大数值和最小数值之间的差异不得超过0.2毫米（试片A）或0.4毫米（试片B）（见 DIN 53 534）。 试片的长度L 应约为100毫米（见图1） 图1 试片
4.3 试片的准备
试片应符合DIN 53 502 的规定从试样或成品上切取。
沿试片窄边中间部位作一个（40±5）毫米深的纵向切口，该切口结尾部分应用刀片或锋利刀具完成。 4.4 试片的预处理
测试应在硫化后16小时以上，4周内进行。对于成品部分，在任何情况下，硫化后和开始测试之间的时间间隔不得超过3个月。如果未知材料的生产日期，测试应在收货后两个月内进行。试片在任何储存时期内应尽可能避免光线的照射。切割前试片应根据 DIN 53 500 在摄氏23度下至少放置3个小时。如果试片切割后不能立即进行测试，则试片应在前述条件下存放。切割和试片测试之间的时间间隔不得超过24小时。
如果试片的预处理涉及抛光，则抛光和测试之间的间隔不得超过72小时。 如果测试开始前试片已经开始老化，则应在其老化后进行切割。 4.5 试片的数量
至少应对5块试片进行测试，如果必要，应按分条款4.1所指的每个方向取5块试片。 5．测试设备
所用的测试设备应为DIN 51 221第三部分规定的带记录装置和夹钳的拉伸测试机。 力量指示必须为DIN 51 221 第一部分所规定的第一级。测试设备应配有短程低惯性测力计。带有倾斜摆锤测力计的测试设备的适用性较差。
如果测试将在高温或低温下进行，则应准备一个调理室以便装入试片和夹钳，调理室可在
±2o
C的范围内保持规定的温度，整个测试过程应在该温度下进行。 应通过定位于试片附近的测试感应器监测调理室的温度。
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